NikkoIA SAS étend sa technologie d’imagerie organique aux rayons X et aux substrats CMOS

NikkoIA SAS étend sa technologie d’imagerie organique aux rayons X et aux substrats CMOS

Moirans/Grenoble (France) – 10 avril 2013 – NikkoIA SAS poursuit les déclinaisons de sa technologie de capteurs d’images organiques en étendant la sensibilité de ses capteurs aux rayons X, et valide la compatibilité de sa technologie avec les substrats de type CMOS.

NikkoIA annonce la fabrication de plusieurs capteurs d’images organiques innovants, confirmant ainsi le potentiel de sa technologie, et valide les briques technologiques sur lesquelles peuvent être immédiatement bâties ses différentes lignes de produits.

La technologie de capteurs NikkoIA consiste à déposer en couches minces un matériau organique photosensible sur un substrat de lecture actif (matrices de transistors) ou passif. Les produits actuellement commercialisés ont une sensibilité optimisée sur le spectre visible et/ou dans la bande 700-900nm et sont principalement réalisés sur des matrices actives TFT sur verre. Les premières caméras d’évaluation pour ces capteurs d’images organiques ont d’ores et déjà été livrées aux premiers clients de la société.

NikkoIA annonce avoir appliqué sa technologie organique à deux nouvelles familles de produits :

 

  1. Des capteurs d’images sensibles aux rayons X, basés sur un capteur d’images organique de 256×256 pixels de 98µm, couplé à un scintillateur de type CsI optimisé pour des énergies de 70-90keV ;
  2. Des capteurs d’images CMOS au format VGA (pixels de 15µm), basés sur des photodiodes organiques et des matrices actives de transistors en technologie CMOS.

« L’extension de la gamme de sensibilité aux rayons X et la généralisation de la technologie de NikkoIA à différents types de substrats (TFT ou CMOS) permettent d’envisager à très court terme la fabrication de capteurs d’images visible, IR ou X de grande surface avec une structure de coût extrêmement compétitive au regard des technologies existantes, ainsi que la fabrication de capteurs d’images CMOS infrarouge au-delà de la longueur d’onde de coupure du silicium» déclare Alain Jutant, Président de NikkoIA SAS.

Ces développements permettent notamment de fabriquer des capteurs d’images organiques immédiatement pertinents en radiographie dentaire ou pour certaines applications de sécurité. NikkoIA envisage de nombreuses autres combinaisons comme la fabrication de capteurs d’images CMOS de petite taille et de haute résolution sensibles dans la bande SWIR de l’infrarouge – et à très faible structure de coût – rendant ainsi possible le développement de nouvelles solutions d’imagerie notamment dans le domaine médical ou l’automobile.

« Ces nouveaux démonstrateurs valident le choix de notre technologie et de notre stratégie. Ils marquent un jalon essentiel dans le développement de produits pour nos marchés cibles », ajoute Alain Jutant.

NikkoIA dispose d’une position unique sur le marché du fait notamment de son accord de licence exclusive et mondiale avec Siemens AG, qui lui donne accès à une technologie fortement protégée par de nombreuses familles de brevets clé. La société poursuit ses développements par l’extension de la gamme de sensibilité spectrale de ses produits au-delà de 1300nm, tout en préparant les premiers produits pour ses marchés cibles en coopération avec ses premiers clients.

 

Capteurs d’images organiques sensibles aux rayons X, dans le visible et le proche infrarouge.

Capteurs d’images organiques VGA à base de technologie CMOS.

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NikkoIA SAS étend sa technologie d’imagerie organique aux rayons X et aux substrats CMOS