NikkoIA SAS étend sa technologie d’imagerie organique aux rayons X et aux substrats CMOS

NikkoIA SAS étend sa technologie d’imagerie organique aux rayons X et aux substrats CMOS

Moirans/Grenoble (France) – 10 avril 2013 – NikkoIA SAS poursuit les déclinaisons de sa technologie de capteurs d’images organiques en étendant la sensibilité de ses capteurs aux rayons X, et valide la compatibilité de sa technologie avec les substrats de type CMOS.

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